[배경]
안녕하세요 여러분! 월간 데이콘 - 반도체 소자 이상 탐지 AI 경진대회에 오신 것을 환영합니다.
이번 월간 데이콘은 실제 제조 환경에서 발생할 수 있는 문제에 대한 해결책을 모색하고, 데이커 여러분 모두가 함께 학문적 역량을 향상시키기 위해 마련되었습니다.
생산 공정에서의 비정상 샘플의 검출은 품질 관리와 효율성 향상에 있어 필수적인 과제입니다. 더 나아가, 이번 대회는 '신규 생산 공정에서 확보된 정상 샘플 이미지 데이터를 활용하여, 추후 발생할 수 있는 비정상 샘플을 정확히 식별해내는 AI 기반의 솔루션 개발'이라는 시나리오에 도전합니다. 본 대회에서의 도전 과제를 위해, 일부 선별되어 추가 가공된 MVTecAD 오픈 데이터셋을 활용합니다.
월간 데이콘의 목표는 단순히 이상 탐지 기술을 개발하는 것을 넘어, 비지도 학습 기반의 이상 탐지 문제(Unsupervised Anomaly Detection)를 실제로 경험하고, 이를 통해 데이커 여러분의 AI 역량과 경험을 한 단계 더 발전시키는 것입니다.
월간 데이콘은 AI 역량을 키우고, 실제 산업 문제에 AI 기술을 적용해볼 수 있는 좋은 기회입니다. 데이커 여러분은 본인의 지식과 기술을 시험해보고, 새로운 기술을 배우며, 다른 데이커들과 아이디어를 교류할 수 있습니다.
모든 데이터 여러분들이 월간 데이콘을 통해 새로운 지식을 탐구하고, 서로 영감을 주는 경험을 하기를 바랍니다. 지금, 여러분의 창의력과 지식을 발휘할 때입니다. 함께 학문적 역량을 향상시키고, 비지도 학습 기반의 이상 탐지 분야의 새로운 도전에 맞서 봅시다.
[주제]
반도체 소자 이상 탐지 AI 모델 개발
[설명]
생산 공정에서 촬영된 반도체 소자 이미지로부터 비정상 샘플을 검출하는 비지도 학습 기반의 이상 탐지 AI 모델 개발
[주최 / 주관]
데이콘
[참가 대상]
데이커라면 누구나 참가 가능
Prize :
인증서
